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UST 通用表面分析儀

簡要描述:1產(chǎn)品介紹通用表面測試儀,具有高局部分辨率,可測量變形、阻尼、形貌、微摩擦等

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2023-11-19
  • 訪  問  量:617

產(chǎn)品分類

Product classification

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詳細(xì)介紹

1 產(chǎn)品介紹

通用表面測試儀,具有高局部分辨率,可測量變形、阻尼、形貌、微摩擦等。

一個系統(tǒng)中的通用表面解決方案

UST設(shè)計用于在一個開放平臺內(nèi)提供定量機(jī)械表征。它地服務(wù)于我們遍布的工業(yè)合作伙伴和研究機(jī)構(gòu)的研發(fā)中心。基于獲得的測量協(xié)議,UST®在納米和厘米范圍內(nèi)提供必要而可靠的解決方案。

UST – 表面測試儀®,是一個為散裝材料和表面涂層評估提供完整機(jī)械測試解決方案的開放式多模塊化系統(tǒng)??梢酝瓿?0多種測量,并開發(fā)了60多種不同的測試,以滿足您的表征要求的多樣性。

基本單位UST ®有兩個版本:UST100(負(fù)載范圍1mN-100mN)和UST1000(加載范圍100mN-50N)?;締卧陕涞厥焦?、帶 3 個吸頭的測量頭、自動 X-Y 工作臺和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)組成

2 適配模塊

3D 變形

在一個區(qū)域上自動執(zhí)行多次單次掃描,并記錄完整曲面的 3D 變形屬性。3D 變形

技術(shù)參數(shù):金剛石錐 60°/ 90°/ 120°

鋼錐 60°

3D 地形

在一個區(qū)域上自動執(zhí)行多次單次掃描,并記錄完整表面的 3D 形貌和材料屬性。

D 地形

3D 粗糙度

粒子模式

技巧:金剛石錐 60°/ 90°/ 120°

鋼錐 60°

劃痕

標(biāo)準(zhǔn)劃痕,具有局部表面輪廓的標(biāo)準(zhǔn)劃痕測試

提示:劃痕鉆石 5° 底切

微量離心(標(biāo)準(zhǔn))

在掃描過程中測量樣品和之間的摩擦力,精度以mN為單位。

硬件:帶傳感器的摩擦臺

電腦控制器卡

樣品固定和夾緊

微摩擦 + 2D 形貌

微摩擦 + 2D 變形

提示:可根據(jù)要求定制吸頭(例如觸覺吸頭)

3 產(chǎn)品優(yōu)勢

在各種商用在線材料性能測試儀器中,UST是迄今為止一家縮小傳統(tǒng)宏觀機(jī)械試驗(yàn)機(jī)與納米級機(jī)器(如AFM)之間差距的測試儀。®

高精度負(fù)載傳感器與壓電執(zhí)行器和主動反饋回路控制相結(jié)合,用于實(shí)時測量正常負(fù)載和摩擦力

通過輕松更換測量頭,可選擇具有不同負(fù)載范圍的選件

帶有內(nèi)置電機(jī)的自動 X-Y 工作臺,可實(shí)現(xiàn)高精度輪廓測量,測量區(qū)域可達(dá) 60 mm × 60 mm

高分辨率工作臺,用于高重新定位

精確的深度測量,所有測試的行程范圍更大,Z方向可達(dá)4 mm

帶位移傳感器的高級線性模塊

具有局部分辨率的原位測量

穩(wěn)定控制速度、位移和步進(jìn)負(fù)載

具有同步全景圖的自動視頻顯微鏡

符合 ISO、DIN 和 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)

實(shí)時數(shù)據(jù)采集,圖像、數(shù)據(jù)和圖形集成

輕松的樣品制備和吸頭更換

為各種應(yīng)用定制吸頭選擇

兼容各種環(huán)境:液體或濕度

4 測試原理

UST測量程序包括用手寫筆在樣品表面上沿著直線進(jìn)行多次機(jī)械掃描。在這個獲得的MISTAN程序中,手寫筆在沒有負(fù)載或以定義的負(fù)載在表面上移動。

步驟1:無負(fù)載掃描。連續(xù)確定表面結(jié)構(gòu)。

步驟2:在具有額外載荷的同一路徑上進(jìn)行掃描以確定總變形。

步驟3:在無載荷的情況下在同一路徑上掃描以確定彈性變形。

總變形 = 步驟 1 - 步驟 2;

彈性變形 = 步驟 3 – 步驟 2;

變形 = 步驟 1 - 步驟 3

5 技術(shù)參數(shù)

項 1:UST 100®

選項 2:UST 1000®

包括:二維變形測量

吸頭檢查/校準(zhǔn)

3 個標(biāo)準(zhǔn)吸頭(2 個鋼錐,鋼球)

1 個大夾具/ 1 個小夾具/ 工具/ 螺釘

UST 100

負(fù)載范圍:1 mN – 100 mN

負(fù)載分辨率: <0,1 mN

負(fù)載背景噪音: <10 mN

X、Y 軸位移分辨率: 1 μm

Z 軸位移分辨率: 60 nm

UST 1000

負(fù)載范圍:10 mN – 50 N

負(fù)載分辨率: <1 mN

負(fù)載背景噪音: <100 mN

X、Y 軸位移分辨率: 1 μm

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