太陽光譜反射計,型號 SSR-ER 版本 6 具有可選的太陽測量光譜,與各種標準的和光束法向太陽輻照度模型相匹配。SSR 可對漫反射和鏡面反射材料進行準確測量,甚至可以測量厚度達 0.25 英寸(6.4 毫米)的第二表面反射器。太陽反射率或吸收率顯示為 0.001 單位,重復性為 0.003 單位。
主要特征
太陽光譜反射計SSR-ER技術規(guī)格:
- 分辨率:4 個數(shù)字液晶顯示反射比、吸收比和透射比至0.001 個單位
- 重復性:±0.003 個單位
- 準確度:使用校正板,對某典型的太陽輻射,偏差±0.002,標準偏差0.005
- 漂移:預熱5 分鐘后,不超過(1%讀數(shù)值±0.003 個單位)/小時
- 操作溫度:電子組件≤60℃,探測頭和透射比附件≤50℃
- 操作和儲存濕度:≤80%
- 校正板:配有漫反射和鏡面反射標準板,它們是經過NBS 校正的二標準板 (編號2019 和2023),標準板的校正數(shù)據(jù)已經程序化在電子組件中,有校正記錄可提供
- 測量孔:反射測試孔直徑是1 英寸(25.4mm)。樣品放置在圍繞測試口的氟隆墊圈上,墊圈的作用是防止樣品在檢測時遭受損壞,樣品的小尺寸是直徑1.1 英寸(28mm);透射比測試孔的直徑是1.5 英寸(38mm)樣品放在支架盤上,樣品的小尺寸是1.65 英寸(42mm)
- 光源:可替換的鹵鎢燈反射測量:鹵鎢燈對樣品孔處的樣品提供漫照射,反射光能在與正常情況下成20°角被檢測器接收。通過相互作用,這個檢測結果等同于在同樣檢測條件下檢測得到的直射光能。
- 透射測量:待測樣品被漫照射,透射光能在與正常情況下成0~60°的固定角度被檢測器接收。通過相互作用,這個檢測結果等同于在個想要的角度檢測得到的樣品直透射光能。
- 檢測光譜:為了匹配不同的光譜范圍,6 個檢測器的加權結果通過套參考反射比瓷磚校正的光譜來實現(xiàn)。每臺儀器會生成組特定加權,這樣,太陽光譜的匹配會達到優(yōu)化,從而大限度地減少不同儀器間的變化影響檢測結果。